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為加強裝置與用戶及用戶之間的交流、合作，由中國科學院高能物理研究所主辦的中國科學院高能物理研究所大科學裝置合作組和用戶工作會之“BSRF 第二十九屆用戶學術年會暨 HEPS 用戶研討會” 在北京懷柔舉辦。

X 射線發射譜（X-ray Emission Spectroscopy, XES）是一種通過分析材料中X 射線發射過程中能量分布，深入研究物質電子結構和化學狀態的技術。

近日，JJ X-Ray首席執行官Christian及應用專家與麥迪森科技團隊一行訪問了中國散裂中子源（CSNS），致力于解決用戶在使用位移臺產品過程中遇到的問題。

JJ X-Ray提供的CRL系統多采用拋物線形透鏡，可搭配五軸調整平臺（5 Axis Alignment Stage），實現對透鏡方向5個自由度的調節，即俯仰角（Pitch）、偏航角（Yaw）及X、Y、Z三個方向位置的調節。

在進行同步輻射相關實驗時，為了獲得較高的空間分辨率，通常需要利用聚焦元器件將X射線進行聚焦。

在同步輻射光源中，通常使用的是超高真空狹縫。X射線根據其光束模式一般可分為三類：白色光束（White Beam）、粉紅色光束（Pink Beam）和單色光束（Monochromatic Beam）。

本周四，JJ X-Ray公司應用專家孫兆宗博士在中國科學技術大學做了專題報告——“為同步輻射光源提供完整光束線解決方案”。

近日，JJ X-Ray在高能同步輻射光源（HEPS）現場順利交付一批狹縫產品，其中包括多種型號的空氣狹縫和超高真空狹縫，如IB-C30-AIR和IB-C30-UHV。

JJ X-Ray可提供在真空環境下使用的狹縫產品。

JJ X-Ray提供多種類型的狹縫。根據不同的使用環境，這些狹縫可分為空氣狹縫（AIR）、高真空狹縫（<10-5mbar）（High Vacuum, HV）和超高真空狹縫（<10-8mbar）（Ultra High Vacuum, UHV）。